CTS-2020探伤仪制作DAC曲线

CTS-2020探伤仪制作DAC曲线

操作：

(1)设定测试点选择=“峰值"，DAC曲线=“on"，开始制作曲线；

(2)用已测探头扫射RB-3试块上深度为10mm的Φ3孔，找到回波最高点，使闸门套住该回波，调节回波高度为80%，选中DAC回波栏，按 打印 键，使DAC回波=“1"，此时已记录了第一个回波参考点，并画出第一段曲线。

(3)重复（2）项操作，依此记录下20mm、30mm、40mm等由浅到深的孔的回波。当较深距离的参考回波幅度小于20%屏幕显示幅度时，可增加仪器灵敏度（增益值），以提高回波幅度，方便记录该回波参考点。

(4)在完成DAC回波操作，记录下所需回波参考点后，一组DAC曲线则制作完成。

(5)按GB/T11345-1989标准B级，测长线（评定线）、定量线、判废线的灵敏度分别为：Φ3-16dB、Φ3-10dB、Φ3-4dB。将菜单项评定线、定量线、判废线 分别设定为：“DAC-16dB"、“DAC-10dB"、“DAC-4dB"，曲线选择设定为“定量线"，另外工件表面补偿一般要4dB，所以增益校正应设置为“+4dB"。

(6)保存当前仪器状态设定及DAC曲线在空白数据集内，记录好该曲线的存储号。

5.2.4应用闸门定量和定位

现场检测时将原先作好的DAC曲线从存储号中调出，将显示选择设置为“HadB"，当DAC曲线测量范围内有可疑回波时，用a闸门套住该回波，屏幕右上方显示的数字如果为“+5.5"，该数字代表闸门内回波峰值与当前选中曲线（“定量线"）的dB差，若高于为“+" ，低于为“-"。所以该回波当量应当为：Φ3-10dB+5.5dB=Φ3-4.5dB，属二区缺陷。缺陷定量时无需调节增益按钮和增益校正。

缺陷的相关数据显示在波形的下方：波高百分比、垂直距离、水平距离和声程等，通过移动闸门起位来给不同缺陷进行定量和定位。

第6章数据集的操作与管理

在主菜单存储中，可找到所有用于存入、调出和删除数据集的功能。数据集不仅包括A扫描波形，还包括所有的仪器参量设置值、DAC曲线和备注信息。在任何时候都可以调出存储的数据集，调出时仪器的参量设置和存入时*相同。这一功能使得在进行重复性检测工作时仪器的校正能快速进行，也使得仪器能够在不同的探伤工作状态间快速切换。

6.1记录的存入

    该功能可将当前仪器的参量设定和波形存入到数据集中。数据集编码前的号表示该数据集已被占用，不能改写；应选择其它空数据集或清除被占用的数据集。测试信息表的有效输入内容，也自动保存到存储的数据集中。

操作：

(1)按存储号对应的选择键 ◄ ，按向上和向下调节键 ▲ ▼，选择存入当前数据集的存储号码（在1至500间循环选择）。

(2)按下存入对应的选择键，通过向上调节键 ▲ 将其设为“on"。当存储过程完成后，存储号显示“"号，同时自动重新设为“off"。 

6.2记录的调出

    调出相应存储号的存储数据。调出数据集后，仪器参量被设置为与存入时相同的设定状态，并显示存储的A型扫描冻结波形。

操作：

(1)在存储号里，选择想要调出的数据集的编码。

(2)将调出子菜单项设为“on"，调出完毕时，自动重新设回“off"。

6.3记录的删除

    被占用的数据集在其存储号前用号标明，说明这些存储号已保存有数据，这些数据集如不再需要，可以清除。

操作：

(1)在存储号中选择想要清除的数据集的编码。

(2)按下子菜单删除对应的 ◄ 键，提示行就会提示：“是否删除此数据集？"

(3)按下向上调节键 ▲ ，将其设为“on"。该数据集即已清除，数据集编码前的号消失。删除后，删除自动重新设为“off"。

(4)“是否删除此数据集？"的提示出现后，若想放弃删除操作时，可按下除了子菜单删除对应的 ◄ 键外的其它按键，退出该操作。

6.4测试信息的编辑和存储

CTS-2020提供了全面的数据集测试信息管理功能。每一数据集都能储存许多附加信息，例如检测对象资料、缺陷数据或评定注释等。存储附加信息有助于对数据集进行简便管理。本仪器有10个栏目的测试信息可供使用。

6.4.1测试信息栏

    在下列区域中，最多可输入11个包括字母数字等符号在内的字符：

数据名     数据集名称

焊缝类型   焊缝描述

操作者     检测人员的姓名或代号

表面状况   表面质量状况

备注       注释

还可在下列栏目中输入数值：

试件厚度   试件描述

测试长度   被探头扫查过的试件长度范围

指示长度   缺陷指示长度

Ｘ位置     X位置坐标

Ｙ位置     Y位置坐标

操作：

(1)将存储菜单中的测试信息设为“on"，进入测试信息编辑界面，如图6.1所示。

图6.1

(2)测试信息编辑界面共有5行3列，顶部（第一行）和最右边是光标指示，用于定位当前编辑位置，图6.1所示，当前编辑位置在2行1列。

(3)按下2~5行对应的选择键 ◄ 可以选择对应的行，重复按同一个键 ◄ 将循环地切换列位置，如图6.2所示，如果再次按下第2行对应的选择键 ◄ ，顶部光标指示将切换到第2列，即当前编辑位置是2行2列的“试件厚度"。

图6.2

(4)按面板增益调节键 ▲ ▼ ，可以将编辑光标左移一位或右移一位，如图6.3所示，按增益调节键 ▲ ，光标右移一位，“试件厚度"栏中0被加亮，这时如需改变“0"值则按增益调节键 ▲ 或 ▼ 进行调节。

图6.3

(5)按向上或向下调节键 ▲ ▼，将改变加亮的数字5，向上调节键 ▲ 增加数值，如图6.4；向下调节键 ▼ 减小数值，如图6.5。

图6.4

图6.5

注：

(1)在调用一新数据集之前，请记住，当前数据集中的所有修改将会丢失！如果需要保存修改，将信息存储栏设为“on"。

(2)存储号栏不可编辑，这里显示的是当前数据集的编码。

6.4.2存储测试信息

选择5行3列的信息存储栏，将其设为“on"。

注：

如对原有的测试信息进行编辑，当数据储存的时候，所有原来的测试信息都会更改。如果原来数据集是空的，所有的仪器设置和当前A扫描图形都和编辑的栏目数据同时储存。数据存储结束后，信息存储自动重新设置为“off"。

6.4.3退出测试信息界面

按 缩放 键，中止测试信息数据编辑，返回到A扫描显示。

注：

信息存储没有置为"on"时，数据将不会被保存。