CTS-1020探伤仪DAC曲线制作与应用|启航检测科技（上海）有限公司全国提供

4.3  DAC曲线制作与删除

DAC曲线即距离-波幅曲线，是描述某一特定规则反射体的回波高度随距离变化的曲线，在斜探头探伤时，由于横波声场的理论推导计算非常复杂，也不成熟，常利用距离-波幅曲线来对缺陷定量和评价。

距离-波幅曲线可以通过试块实测得到，也可通过理论计算公式得到，但理论计算只适用于>3N(近场区)，所以本仪器距离-波幅曲线需要通过试块实测，然后仪器自动制作距离-波幅曲线。

4.3.1  DAC曲线的制作

在制做DAC曲线过程中，范围、dB、移位均不可以再调节，但△dB、闸门等其他参数可调节。另外，DAC曲线和探头非常相关，在制作DAC曲线前，用户需对探头延时、K值进行标定。否则所制作DAC曲线可能错误。

DAC曲线可根据不同标准要求制作，相关的标准包括：NB47013、GB11345、ASME、ASME Ⅲ、JIS、EN1712。此外，还可以自定义曲线，最多可制作7条曲线。

操作步骤：

a) 按-【功能】-【DAC】进入图4-3；

b) 按【标准】选择相应标准制作DAC曲线；按【参数】设置DAC曲线参数；

图4-3  DAC曲线功能界面

c) 按【制作】进入DAC曲线制作，如图4-4。移动闸门，套住参考回波，按【记录】(在制作过程中,用户需寻找第一记录点回波时,只需按【H2】键闸门自动套住回波，再按自动增益,可免去移动闸门及调整dB的步骤。)

d) 按【制作完成】，即可完成曲线制作。

图4-4  DAC曲线的制作界面

4.3.2  DAC曲线的修正

    操作步骤：

a) 按-【功能】-【DAC】-【制作】，选择【修正】进入菜单，如图4-5；

b) 选择【第几点】后，再选择【高度】，旋转旋钮即可；

c) 选择【删除】则可直接删除曲线点。

图4-5　DAC曲线修正界面

4.3.3  DAC曲线的报警及存储

用闸门1选通DAC曲线内回波，此时如果回波超过某一曲线，相应幅度结果将以当量显示。例如“SL＋1.1"表示该缺陷波峰点位于曲线区并超过定量线1.1dB。当闸门1回波幅度超过定量线时,曲线会通过变颜色进行报警提醒。

DAC曲线的存储功能包括探伤参数及DAC曲线参数的保存。

存储操作如下：在DAC曲线功能状态下(显示DAC符号)，按　　　键或按-【数据】-【存储】打开保存界面。

4.4  AVG曲线制作与删除

    在超声波探伤中，自然缺陷的形状、性质和方向各不相同，回波相同的缺陷实际上往往相差很大，为此特引进“当量尺寸"来衡量缺陷的大小。在相同的探测条件下，当自然缺陷与某形状规则的人工缺陷回波等高时，则该人工缺陷的尺寸就为此自然缺陷的当量尺寸。

    描述规则反射体的距离、波幅、当量大小之间的关系曲线称为距离-波幅-当量曲线，德文称AVG曲线，英文为DGS曲线。

    本仪器提供“实用AVG曲线"功能。只适用于特定直探头，可以用来调整探伤灵敏度和缺陷定量，可以检测锻件、细晶体铸件、型材等。

使用时请注意：

a) 在制作AVG曲线时，要注意所用探头的频率和晶片尺寸是否适宜，在参数菜单中的数值是否正确；在制作AVG时，理论上只计算了三倍近场区之后的数值，三倍近场区之前仅显示为直线，如果用户所用试块深度较小，则需用多次波，使所需回波处于三倍近场区之后；

b) 不考虑试块的介质衰减系数与被检工件的介质衰减 两者之间的差别；

c) 不考虑耦合条件的不同（试块、工件不同的表面状态）；

注:

参考类型可选择：大平底或平底孔，平底孔参考尺寸可设置为0.5mm～10mm。

AVG曲线尺寸：0.5mm～10mm，步进0.1mm。

操作步骤：( 2.5P20直探头，200φ2的平底孔为例)

a) 按-【功能】-【AVG】；

b) 【参数】-【参考类型】，选择“平底孔"；

c) 选择【参考尺寸】φ2；

d) 选择【曲线尺寸】φ2；

e) 耦合探头（2.5P20）到200φ2的平底孔试块上，找到该平底孔的最高反射波，将闸门套住该回波；

f) 选择【制作】-【记录】即可完成曲线制作；

g) 选择【关闭AVG】，将删除曲线并退出功能；曲线制作完成后，如需删除重新制作，选择【重新制作】。

曲线制作完成后，在测量结果显示区最后一行将显示测量结果，其中第一个数据表示回波幅度相对与AVG曲线的dB差，如+2dB（表示回波幅度高出AVG曲线2dB）。第二数据表示缺陷当量，如2.0mm（表示缺陷大小相当于φ2.0mm的平底孔）。

图4-6  AVG曲线制作界面

4.5  API 5UE缺陷深度定量计算

操作步骤：

a) 选择【开启功能】；

b) 选择【Dr】，输入标定校准的参考指示体（已知深度的刻槽或通孔的深度）；

c) 按，调节合适的探测范围；

d) 选择【开启峰值】；

e) 将探头放置到标准试块并确认耦合良好；

f) 移动探头，使屏幕形成API 5UE所要求的动态回波包络；

g) 移动闸门1套住回波包络；

h) 选择【计算因子K】；

i) 将探头放置到待检测工件并确认耦合良好；移动探头，使屏幕形成API 5UE所要求的动态回波包络；

j) 选择【Di】进行计算。

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