ZL-Ic试块/ZL-Ic探伤标准试块
ZL-Ic探伤试块|启航ZL-Ic纵波灵敏度试块|启航检测科技(上海)有限公司优惠价供应
纵波灵敏度试块依据标准中技术2要求而设计,该类试块主要适用于标准技术2中纵波检测以平底孔为基准反射体,制作纵波距离-增益-尺寸曲线(DGS)。试块依据检测范围及平底孔直径的不同共设计两个系列七块试块,ZL-I系列为<40mm纵波灵敏度试块,ZL-II系列为≥40mm纵波灵敏度试块。纵波灵敏度试块设计内容见下表。
国家标准GB/T 11345—2013《焊缝无损检测 超声检测 技术、检测等级和评定》、GB/T 29711—2013 《焊缝无损检测 超声检测 焊缝中的显示特征》、GB/T 29712—2013《焊缝无损检测 超声检测 验收等 级》于2013年9月18日颁布、2014年6月1日实施。该系列标准为推荐性标准,分别对应焊缝超声检测的技术方法 和检测等级、显示特征判定以及焊缝质量验收三个方面,代替GB/T 11345—1989标准。标准中明确给出设定参 考灵敏度的要求,但没有给出标准试块图纸,因此各行业需根据使用不同,依据标准设计了多种试块,为规范 试块设计,汲取各行业设计之优点最终设计出整套标准试块。本套试块为产品,本手册仅供参考学习,请 勿用于任何商业活动。
依据标准内容要求试块共分五大类,共计28块。(φ3mm横孔灵敏度试块、纵波灵敏度试块、横波灵敏度 试块、槽型基准灵敏度试块、串列式试块。)
纵波灵敏度试块
纵波灵敏度试块依据标准中技术2要求而设计,该类试块主要适用于标准技术2中纵波检测以平底孔为基准反射体,制作纵波距离-增益-尺寸曲线(DGS)。试块依据检测范围及平底孔直径的不同共设计两个系列七块试块,ZL-I系列为<40mm纵波灵敏度试块,ZL-II系列为≥40mm纵波灵敏度试块。纵波灵敏度试块设计内容见下表。
RB-1、RB-2、RB-3为系列试块,分别适合8-25、8-100和 8-150mm的板厚,其标准反射体为40mm的横通孔。主要用途绘制距离-波幅曲线,调整探测范围和扫查速度。测定斜探头的K值。
RB-1、RB-2、RB-3为系列试块,分别适合8-25、8-100和 8-150mm的板厚,其标准反射体为φ3×40mm的横通孔。主要用途绘制距离-波幅曲线,调整探测范围和扫查速度。测定斜探头的K值。
RB-1试块,适用于检测工件厚度为≥8mm~25mm的焊接接头。横波检验时直射波检测所对应的标准孔深度分别为5mm、10mm、15mm、20mm、一次反射波检测所对应的标准孔深度分别为30mm、35mm、40mm、45mm、二次反射波检测所对应的标准孔深度分别为55mm、60mm、65mm、70mm。纵波检测时所对应的标准孔深度为5mm、10mm、15mm、20mm、50mm
RB-2试块,适用于检测工件厚度为≥8mm~100mm的焊接接头。横波检验时直射波检测所对应的标准孔深度分别为10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、70mm、80mm、90mm、100mm,一次反射波检测所对应的标准孔深度分别为120mm、130mm、140mm、150mm、160mm、170mm、180mm、190mm、200mm、210mm。纵波检测时所对应的标准孔深度为10mm、20mm、30mm、40mm、50mm。
频率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型号 | 焦距 | 插座 | |
P型 | C型 | ||||
1.25 | 20 | 1.25P20 F5 | 1.25C20 F5 | 5 | Q6(双) |
1.25P20 F15 | 1.25C20 F15 | 15 | |||
2.5 | 10 | 2.5P10 F5 | 2.5C10 F5 | 5 | |
2.5P10 F8 | 2.5C10 F8 | 8 | |||
2.5P10 F10 | 2.5C10 F10 | 10 | |||
14 | 2.5P14 F5 | 2.5C14 F5 | 5 | ||
2.5P14 F10 | 2.5C14 F10 | 10 | |||
2.5P14 F15 | 2.5C14 F15 | 15 | |||
2.5P14 F20 | 2.5C14 F20 | 20 | |||
2.5P14 F30 | 2.5C14 F30 | 30 | |||
20 | 2.5P20 F5 | 2.5C20 F5 | 5 | ||
2.5P20 F10 | 2.5C20 F10 | 10 | |||
2.5P20 F15 | 2.5C20 F15 | 15 | |||
2.5P20 F20 | 2.5C20 F20 | 20 | |||
2.5P20 F30 | 2.5C20 F30 | 30 | |||
5 | 6 | 5P6 F5 | 5C6 F5 | 5 | |
5P6 F8 | 5C6 F8 | 8 | |||
8 | 5P8 F5 | 5C8 F5 | 5 | ||
5P8 F8 | 5C8 F8 | 8 | |||
5P8 F10 | 5C8 F10 | 10 | |||
10 | 5P10 F5 | 5C10 F5 | 5 | ||
5P10 F8 | 5C10 F8 | 8 | |||
5P10 F10 | 5C10 F10 | 10 | |||
14 | 5P14 F5 | 5C14 F5 | 5 | ||
5P14 F10 | 5C14 F10 | 10 | |||
5P14 F15 | 5C14 F15 | 15 | |||
5P14 F20 | 5C14 F20 | 20 | |||
5P14 F30 | 5C14 F30 | 30 | |||
20 | 5P20 F5 | 5C20 F5 | 5 | ||
5P20 F10 | 5C20 F10 | 10 | |||
5P20 F15 | 5C20 F15 | 15 | |||
5P20 F20 | 5C20 F20 | 20 | |||
5P20 F30 | 5C20 F30 | 30 |
频率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型号 | 插座 | |
P型 | C型 | |||
2.5 | 8*12 | 2.5P8*12 K0.8 | 2.5C8*12 K0.8 | Q9 |
2.5P8*12 K1 | 2.5C8*12 K1 | |||
2.5P8*12 K1.5 | 2.5C8*12 K1.5 | |||
2.5P8*12 K2 | 2.5C8*12 K2 | |||
2.5P8*12 K2.5 | 2.5C8*12 K2.5 | |||
2.5P8*12 K3 | 2.5C8*12 K3 | |||
9*9 | 2.5P9*9 K0.8 | 2.5C9*9 K0.8 | ||
2.5P9*9 K1 | 2.5C9*9 K1 | |||
2.5P9*9 K1.5 | 2.5C9*9 K1.5 | |||
2.5P9*9 K2 | 2.5C9*9 K2 | |||
2.5P9*9 K2.5 | 2.5C9*9 K2.5 | |||
2.5P9*9 K3 | 2.5C9*9 K3 | |||
5 | 8*12 | 5P8*12 K0.8 | 5C8*12 K0.8 | |
5P8*12 K1 | 5C8*12 K1 | |||
5P8*12 K1.5 | 5C8*12 K1.5 | |||
5P8*12 K2 | 5C8*12 K2 | |||
5P8*12 K2.5 | 5C8*12 K2.5 | |||
5P8*12 K3 | 5C8*12 K3 | |||
9*9 | 5P9*9 K0.8 | 5C9*9 K0.8 | ||
5P9*9 K1 | 5C9*9 K1 | |||
5P9*9 K1.5 | 5C9*9 K1.5 | |||
5P9*9 K2 | 5C9*9 K2 | |||
5P9*9 K2.5 | 5C9*9 K2.5 | |||
5P9*9 K3 | 5C9*9 K3 |
频率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型号 | 插座 | |
P型 | C型 | |||
2.5 | 6*8 | 2.5P6*8 K0.8 | 2.5C6*8 K0.8 | Q9 |
2.5P6*8 K1 | 2.5C6*8 K1 | |||
2.5P6*8 K1.5 | 2.5C6*8 K1.5 | |||
2.5P6*8 K2 | 2.5C6*8 K2 | |||
5 | 6*6 | 5P6*6 K0.8 | 5C6*6 K0.8 | Q6 |
5P6*6 K1 | 5C6*6 K1 | |||
5P6*6 K1.5 | 5C6*6 K1.5 | |||
5P6*6 K2 | 5C6*6 K2 | |||
5P6*6 K2.5 | 5C6*6 K2.5 | |||
5P6*6 K3 | 5C6*6 K3 | |||
6*8 | 5P6*8 K0.8 | 5C6*8 K0.8 | Q9 | |
5P6*8 K1 | 5C6*8 K1 | |||
5P6*8 K1.5 | 5C6*8 K1.5 | |||
5P6*8 K2 | 5C6*8 K2 | |||
5P6*8 K2.5 | 5C6*8 K2.5 | |||
5P6*8 K3 | 5C6*8 K3 |
接收客户定制各种规格的双晶斜探头,定制时请告知频率、晶片大小、折射角或 K 值、焦点深度、前沿距离、外壳、接插头等指标要求。
该类试块依据标准中技术1及附录E的要求而设计,该类试块主要适用于标准技术1中横波及纵波检测以φ3mm横孔为基准设定灵敏度,试块依据检测范围的不同共设计五块试块,试块设计内容见下表。
序号 | 试块代号 | 试块名称 | 标准反射体(mm) | 检测范围(mm) |
1 | SD-1 | φ3mm横孔试块 | φ3×40横孔 | 8≤t≤15 |
2 | SD-2 | φ3mm横孔试块 | φ3×40横孔 | 15<t≤20< span=""> |
3 | SD-3 | φ3mm横孔试块 | φ3×40横孔 | 20<t≤40< span=""> |
4 | SD-4 | φ3mm横孔试块 | φ3×40横孔 | 40<t≤100< span=""> |
5 | SD-5 | φ3mm横孔试块 | φ3×40横孔 | t>100 |
启航检测科技(上海)有限公司是一家*从事无损检测设备代理的公司,主营超声波检测设备及探头、超声波相控阵、超声TOFD探伤仪、超声波相控阵探头以及数字成像平板等*设备,品牌有奥林巴斯NDT、美国磁通、美国sherwen、汕超、新美达、美国GE等多家产品。长期以来,公司坚持走科技创新之路,不断拓展产品线及产品技术,加大应用技术人员投入。
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